超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
                
            
            
            
            
            如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話(huà),可以
            
                產(chǎn)品名稱(chēng): 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x 
            
            
                產(chǎn)品型號(hào): 
            
                產(chǎn)品展商: 其它品牌
            
            
            
            
                產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
            
            
            
            
                簡(jiǎn)單介紹
            
            
                
超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x基于光譜反射原理, 即在一定的波長(zhǎng)光波下,通過(guò)追蹤被帶有層狀結(jié)構(gòu)的基片反射和/或投射的光束來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)量膜層厚度。測(cè)量薄膜厚度范圍可達(dá)1nm -1000 um。一般20ms可以得到測(cè)量結(jié)果。而且超高精度MProbe薄膜測(cè)厚儀尺寸非常小巧,8″x 4″x10″。超高精度 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x非常適合實(shí)驗(yàn)室,產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè),研發(fā)使用。
            
            
                超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
                 的詳細(xì)介紹
            
        
             
超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn):
l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x應(yīng)用廣泛:(a) 太陽(yáng)能光伏薄膜領(lǐng)域-aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe;(b) LCD, FPD領(lǐng)域-ITO, Cell Gaps, Polyamides;(c) 光學(xué)薄膜領(lǐng)域-介質(zhì)濾波器,加硬膜,減反射膜;(d) 半導(dǎo)體和電解質(zhì)領(lǐng)域-Oxides, Nitrides, OLED stack
	 
	l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x即時(shí)測(cè)量和數(shù)據(jù)分析
	 
	l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫(kù):已經(jīng)有了500多種常用的材料參數(shù),新的材料也容易添加,并能根據(jù)需要添加相應(yīng)的材料特性參數(shù)-Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
	 
	l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x連接方便,使用自如:不管實(shí)在實(shí)驗(yàn)室獨(dú)立使用,還是在研發(fā)或者是工廠(chǎng)連續(xù)生產(chǎn)中不間斷在線(xiàn)持續(xù)監(jiān)測(cè)膜層厚度,都能在10分鐘內(nèi)完成安裝,與電腦或是網(wǎng)絡(luò)的連接十分方便
	 
	l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量數(shù)據(jù)完整:除了膜層的厚度,還能測(cè)量光學(xué)參數(shù)和表面平整度
	 
	l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x使用人性化,功能強(qiáng)大:一鍵式操作即可完成膜層厚度測(cè)量和分析;強(qiáng)大的工具-仿真功能,內(nèi)部自我糾正,多樣品測(cè)量,動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)和產(chǎn)品批量監(jiān)測(cè).
	
		
			| 
					產(chǎn)品尺寸
				 | 
					8″x 4″x10″
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			| 
					測(cè)量精度
				 | 
					<0.01nm or 0.01% 
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			| 
					穩(wěn)定性
				 | 
					<0.02nm or 0.03% 
				 | 
		
			| 
					光斑尺寸
				 | 
					2mm to 3um 
				 | 
		
			| 
					樣品大小
				 | 
					可以小至1 mm
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			| 
					測(cè)量范圍
				 | 
					1 nm - 1000 um
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			| 
					波長(zhǎng)范圍
				 | 
					200nm -8000nm 
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